• kapo_standardo_01

Atestado de Potenca Aparato AQG324

Mallonga priskribo:

La Laborgrupo de ECPE AQG 324 establita en junio 2017 laboras pri Eŭropa Kvalifika Gvidlinio por Potencaj Moduloj por Uzo en Potencaj Elektronikaj Konvertilaj Unuoj en Motoraj Veturiloj.


Produkta Detalo

Produktaj Etikedoj

Serva Enkonduko

La Laborgrupo de ECPE AQG 324 establita en junio 2017 laboras pri Eŭropa Kvalifika Gvidlinio por Potencaj Moduloj por Uzo en Potencaj Elektronikaj Konvertilaj Unuoj en Motoraj Veturiloj.

Surbaze de la antaŭa germana LV 324 ("Kvalifiko de Potencaj Elektronikaj Moduloj por Uzo en Aŭtomobilaj Komponantoj - Ĝeneralaj Postuloj, Testkondiĉoj kaj Testoj") la ECPE-Gvidlinio difinas oftan proceduron por karakterizado de modultestado same kiel por media kaj dumviva testado de elektraj elektronikaj moduloj por aŭtomobila apliko.

La gvidlinio estis publikigita de la respondeca Industria Laborgrupo konsistanta el ECPE-membro-kompanioj kun pli ol 30 industriaj reprezentantoj de la aŭtomobila provizoĉeno.

La nuna AQG 324-versio datita la 12-an de aprilo 2018 temigas Si-bazitajn potencajn modulojn kie estontaj versioj liberigotaj de la Laborgrupo ankaŭ kovros la novajn larĝajn bandgap-potencajn duonkonduktaĵojn SiC kaj GaN.

Profunde interpretante AQG324 kaj rilatajn normojn de spertulteamo, GRGT establis la teknikajn kapablojn de elektra modula konfirmo, provizante aŭtoritatajn AQG324-inspektajn kaj kontrolajn raportojn por supren kaj laŭfluaj entreprenoj en la potenca duonkondukta industrio.

Serva Amplekso

Potencaj aparataj moduloj kaj ekvivalentaj specialaj dezajnoproduktoj bazitaj sur diskretaj aparatoj

Testnormoj

● DINENISO/IEC17025: Ĝeneralaj Postuloj por la Kompetenteco de Testado kaj Kalibraj Laboratorioj

● IEC 60747: Semikonduktaĵo-Aparatoj, Diskretaj Aparatoj

● IEC 60749:Semikonduktaĵo-Aparatoj ‒ Mekanikaj kaj Klimata Testo-Metodoj

● DIN EN 60664: Izola Kunordigo por Ekipaĵoj Ene de Malalttensiaj Sistemoj

● DIEN60069:Media Testado

● JESD22-A119:2009:Vivo de konservado de malalta temperaturo

Testaj eroj

Testa tipo

Testaj eroj

Modula detekto

Senmovaj parametroj, dinamikaj parametroj, ligtavola detekto (SAM), IPI/VI, OMA

Modula karakteriza testo

Parazita devaga indukto, termika rezisto, kurta cirkvito-rezisto, izolaj provo, mekanika parametro-detekto

Ekologia provo

Termika ŝoko, mekanika vibro, mekanika ŝoko

Viva provo

Potenca biciklado (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, dinamika pordega biaso, dinamika inversa biaso, dinamika H3TRB, korpa dioda dupolusa degenero


  • Antaŭa:
  • Sekva:

  • Skribu vian mesaĝon ĉi tie kaj sendu ĝin al ni